東莞市禧隆電工機械設備有限公司
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15J測量顯微鏡

15J測量顯微鏡

 詳情說明
用途
測量顯微鏡是光學計量儀器之一種,它的結構簡單,操作方便,適用范圍極廣,用途如下:
1.直角坐標中測定長度,例如測定孔距、基面距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑、電線電纜絕緣皮厚度等。
2.轉動度盤測定角度,例如對刻度盤、樣板、量規(guī)、鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。
3.用作觀察顯微鏡,以比較法檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業(yè)的礦石標本。檢定印刷照相制版,檢驗紡織纖維等等。
 
規(guī)格
物    鏡
目    鏡
顯微鏡
放大倍數
工作距離(mm)
視場直徑(mm)
放大倍數
焦距(mm)
放大倍數
焦距(mm)
2.5X/0.08
43.40
10X
25.00
25X
58.84
5.6
10X/0.25
17.13
100X
7.81
1.4
 
測量工作臺讀數裝置主要規(guī)格
X軸移動測量范圍            50 mm
Y軸移動測量范圍            13 mm
測微器分度值              0.01mm
測量臺轉動范圍             不限
測量臺刻度盤分度范圍     0°?360°
測量臺刻度盤之分度值     1°
測量臺刻度盤讀數示值     6’
 
測量精度
儀器示值誤差:±(5+L/15)μm
儀器示值誤差:包括測量誤差與儀器系統(tǒng)誤差
注:測量地點溫度變化(20±3)℃
L-被測件長度(mm)
 
儀器主要尺寸
測量臺與物鏡距離    80mm
測量工作臺直徑     120mm
儀器外形尺寸       262×220×325mm
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