負(fù)載插頭溫升試驗(yàn)是將插頭或插座正負(fù)極短接后，尾部接在電流輸出接線柱上，然后接通電流，按標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)定好所需試驗(yàn)電流及時(shí)間后，測試插頭或插座的插片與導(dǎo)體鉚合處的溫升數(shù)值在經(jīng)過一定的時(shí)間及電流負(fù)載溫升數(shù)值是否符合標(biāo)準(zhǔn)要求。
 插頭溫升試驗(yàn)可以記錄6路測試溫度+一路室溫，用U盤溫度數(shù)據(jù)，電腦轉(zhuǎn)存EXCEL文檔，觸摸屏控制,測試方式分為間斷測試和連續(xù)測試。間斷測試是0-30000次，連續(xù)測試是0-30000分鐘。
 負(fù)載插頭溫升試驗(yàn)的兩種模式
 模式一：
（1）通過額定電流；
（2）每隔5分鐘記錄溫度；
（3）當(dāng)連續(xù)三個(gè)溫度數(shù)據(jù)顯示穩(wěn)定下來，記錄此溫度與室溫相差即為端子溫升值。
 模式二：
（1）通過額定電流；
（2）以45分鐘負(fù)載及15分鐘無負(fù)載為一循環(huán)，在45分鐘負(fù)載后記錄溫度，以及負(fù)載前也需要記錄溫度。